AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)3：由汽車(chē)電子委員會(huì)（AEC）制定，是車(chē)用 IC 芯片的綜合可靠性測(cè)試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。其中包含針對(duì)高溫工作壽命（HTOL）測(cè)試，通常要求在 125℃環(huán)境下持續(xù) 1000 小時(shí)，用于評(píng)估芯片在高溫長(zhǎng)期工作條件下的可靠性。

GB/T 2423 系列標(biāo)準(zhǔn)4：是國(guó)內(nèi)系統(tǒng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)，用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的性能和可靠性，包含溫度試驗(yàn)、濕度試驗(yàn)等內(nèi)容。其中 GB/T 2423.2-2008 規(guī)定了高溫試驗(yàn)方法，包括非散熱樣品（恒定高溫）與散熱樣品（溫度漸變）的測(cè)試流程，溫度梯度≤3℃/min。

ISO 16750-4 標(biāo)準(zhǔn)4：是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）發(fā)布的關(guān)于汽車(chē)電子設(shè)備的環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，包含冷熱沖擊測(cè)試要求，規(guī)定了汽車(chē)電子設(shè)備必須承受的高低溫交替環(huán)境條件，確保其在長(zhǎng)期使用過(guò)程中不發(fā)生性能退化或功能故障。

IEC 60068-2-14 標(biāo)準(zhǔn)4：由國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）發(fā)布，適用于汽車(chē)及其他領(lǐng)域的電子元件，定義了冷熱沖擊測(cè)試的溫度范圍、測(cè)試周期和方法，廣泛應(yīng)用于汽車(chē)電子設(shè)備和組件的可靠性測(cè)試。

SAE J1211 標(biāo)準(zhǔn)4：由美國(guó)汽車(chē)工程師協(xié)會(huì)（SAE）制定，專(zhuān)門(mén)用于汽車(chē)溫度循環(huán)測(cè)試，提供了用于評(píng)估汽車(chē)零部件在快速溫度變化下表現(xiàn)的測(cè)試方法，適用于塑料、橡膠、電氣部件等材料。

GMW 3172 標(biāo)準(zhǔn)4：是通用汽車(chē)公司（GM）制定的標(biāo)準(zhǔn)，適用于汽車(chē)零部件的溫度和濕度循環(huán)測(cè)試，規(guī)定了汽車(chē)組件需要經(jīng)過(guò)的冷熱沖擊環(huán)境，并描述了測(cè)試過(guò)程中所需的溫度范圍、時(shí)間和條件。